银浆-振鑫焱24小时服务-海关---银浆回收

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电池片差别 

太阳电池开始面世的是单晶硅太阳电池。硅是宇宙上极丰富多彩的这种原素，基本上满地常有硅的存有，百口莫辩取之不竭，用硅来生产制造太阳电池，原材料可以说不缺。可是提炼出它却不易，因此大家在生产制造单晶硅太阳电池的一起，又科学研究了多晶硅太阳电池和非晶硅太阳电池，迄今商业服务经营规模生产制造的太阳电池，都还没跳出来硅的系列产品。我觉得能够生产制造太阳电池的半导体器件许多，随之原材料工业生产的发展趋势、太阳电池的种类将很多。现阶段已开展科学研究和研发的太阳电池，废银浆回收，除硅系列产品外，也有---镉、---镓、铜铟硒等很多种类的太阳电池，回收无边框银浆，不胜枚举，下列详细介绍几类较普遍的太阳电池。归类单晶硅太阳电池。

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5 、 检测方法

5.1 设计和结构

5.1.1   基体材料

电池的基体材料应按相关详细规范的要求及检测方法进行检测。

5.1.2   电极

5.1.2.1  电池电极的完整性、电极图形位移的检验应使用分辨力优于 0.01mm 的标准尺测量。

5.1.2.2 在照度不小于 800lux 的白色光源下，目测电极是否变色。

5.1.2.3 电池电极的导电性按 gb/t17473.3  进行。

5.1.2.4 电池电极的可焊性按 gb/t17473.7  进行。

5.1.3 背面铝膜

5.1.3.1 背面铝膜与基体材料的匹配性检测

通过检测电池的弯曲变形，验证背面铝膜材料的热膨胀系数与基体材料的匹配性。适用表面平整度优于 0.01mm 平台，电池背面朝下水平放置，用分辨力优于 0.01mm 的量具进行检验。

5.1.3.2 背面铝膜与基体材料的附着强度测验

如图 2 所示放置样品，在满足 eva 充分交联的条件下压层，取出后立即撕下四氟布，待冷却到室温后，用刀割断 eva 和铝膜，撕去 eva 条，观察有无铝膜脱落。

5.1.3.3 背面铝膜外观检验

背面铝膜的凸起高度应使用分辨力优于 0.01mm 的带标尺的光学显微镜测量，图形缺陷采用目测。图形位移采用分辨力优于 0.02mm 的卡尺测量。

5.1.3.4 背面铝膜的导电性检测背面铝膜的导电性按gb/t17473.3 进行。

5.1.4  减反射膜附着强度检测

减反射膜附着强度的测试采用胶带试验测定粘合性的方法，胶带附着强度不小于 44n/mm 。具体按 astm3359 进行，减反射膜不脱落。