光伏组件老化箱又称湿冻试验箱、光伏湿冻试验箱等,该设备适用于光伏组件(太阳能电池板)、光伏玻璃、薄膜组件、太阳能电池等做热循环、湿冻循环、高温高湿双85试验,以确认组件能否承受高温高湿之后随之的负温度影响,以及对于温度重复变化时引起的疲劳和热失效,另外确定光伏组件曝露在高湿度下而产生的热应力及能够抵抗湿气长期渗透的能力.是光伏组件行业必不可少的测试设备。
yaseline光伏组件老化箱技术指标:
温度范围:-60℃~+100℃
温度波动度:±0.5℃
温度偏差:±2℃
升、降温速率:按照iec 61646试验标准(见0条)
湿度试验:85℃,85% r.h
湿度范围:20%~95% r.h
样品承重:太阳能薄膜组件: 6片 180kg、铝合金型材置物架:280kg
试验方法:a.热循环试验 b.湿-冻试验 c.湿-热试验
定时功能:0.1~999.9(h、m、s)可调
按硅片直径划分:
硅片直径主要有3英寸、4英寸、6英寸、8英寸、12英寸(300mm),目前已发展到18英寸(450mm)等规格。直径越大,在一个硅片上经一次工艺循环可制作的集成电路芯片数就越多,每个芯片的成本也就越低。因此,直径硅片是硅片制各技术的发展方向。但硅片尺寸越大,对微电子工艺设各、材料和技术的要求也就越高。
按单晶生长方法划分:
直拉法制各的单晶硅,称为cz硅(片);磁控直拉法制各的单晶硅,称为mcz硅(片);悬浮区熔法制各的单晶硅,称为fz硅(片);用外延法在单晶硅或其他单晶衬底上生长硅外延层,称为外延(硅片)。
随着近年来国内光伏市场的扩大和分布式光伏发电系统的发展,电站设计人员对各类光伏组件产品性能也提出更高要求。目前,对于光伏组件的电气性能测试主要依赖实验室内的太阳光模拟器,检测其输出特性曲线,该方法便于控制辐照度及温度等环境参数。但光伏组件实际工作于户外复杂环境,其输出功率易受到灰尘、沙砾、雨雪等因素影响,输出特性也可能因建筑、树荫等周期性阴影改变,因此光伏组件实际输出功率一般远低于实验室内理想环境下的输出功率。目前,---对光伏阵列的iv特性测量已提出了部分方法,主要是采用动态电容充电方法,现场的同步测量光伏阵列iv特性。该方法测量速度较快,对控制器的采样速率要求也较高。此外,也有基于可变电子负载的现场测量方法,它对光伏阵列iv特性曲线上大功率点附近测量点较多,但对短路和开路点附近测量点数量较少,当光伏阵列处于轻微失配或遮蔽等工况下,该方法难以实现对此现象的测量。针对如何更细致的反应光伏组件户外输出性能,提出了户外光伏组件测试平台,它使光伏组件长期工作于户外环境下,实时监测其输出特性,并积累测量数据,以评估组件长期工作于户外环境下的输出性能,使电站设计人员针对具体环境,选用更合理的光伏组件搭建光伏系统。也为组件生产商和科研实验工作提供了---的保障与技术支持。
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