南阳芯片-振鑫焱光伏科技-回收电脑芯片

隐裂、热斑、pid效应，是影响晶硅光伏组件性能的三个重要因素。

3. 识别“隐裂”的方法

el（electroluminescence，电致发光）是一种太阳能电池或组件的内部缺陷检测设备，是简单有效的检测隐裂的方法。利用晶体硅的电致发光原理，ic芯片回收，通过高分辨率的红外相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺陷。具有灵敏度高、检测速度快、结果直观形象等优点。下图即是el的检测结果，清晰的显示了各种缺陷和隐裂。

　　5、背面铝背电极完整，无明显凸起的“铝珠。

　　6、单晶硅电池片上不允许出现肉眼可见的裂纹。

　　7、单晶硅电池片不可有缺角、边缘损坏。

　　8、检验每个小包装外观、标签及数量。

　　9、每个大箱的包装外观及总数量(每箱抽检不少于2包，检验以上项目)。

　　10、厂家规格说明书并注意核对实际发货的参数。

        太阳电池组件中， 单体太阳电池之间的连接是用金属导电带串联或并联焊接的。 目前常用的晶体硅太阳电池封装工艺如下。依次将钢化白玻璃—eva（乙烯共聚 物 ）—太 阳 电 池 片—虹 吸 玻 璃—eva—pvf（聚---）复合膜叠起， 放入层压封装机内进行封装。