芯片的背部减薄制程
1. grinding制程:
对外延片以lapping的方式虽然加工品质较好,但是移除率太低,也只能达到3um/min左右,如果全程使用lapping的话,加工就需耗时约2h,时间成本过高。目前的解决方式是在lapping之前加入grinding的制程,通过钻石砂轮与减薄机的配合来达到快速减薄的目的。
2. lapping制程
减薄之后再使用6um左右的多晶钻石液配合树脂铜盘,既能达到较高的移除率,又能修复grinding制程留下的较深刮伤。一般来说切割过程中发生裂片都是由于grinding制程中较深的刮伤没有去除,因此此时对钻石液的要求也比较高。
除了裂片之外,有些芯片厂家为了增加芯片的亮度,在lapping的制程之后还会在外延片背面镀铜,此时对lapping之后的表面提出了更高的要求。虽然有些刮伤不会引起裂片,但是会影响背镀的效果。此时可以采用3um多晶钻石液或者更小的细微性来进行lapping制程,以达到---的表面品质。
3 可编程电子负载硬件设计
目前,市场上常见的光伏组件在标准测试条件(stc)下的输出大功率约为200~300w,短路电流约8~9a,开路电压约30~40v,光伏组件--- 回收,因此设计了额定负载300w 的可自动切换工作模式的可编程电子负载,并作为组件测试过程中的负载,将测试过程中组件输出功率以热能的形式持续耗散。可测量的电流和电压范围分别为0~10a和0~90v,满足目前常见商业组件测量需求。
3.1 恒流工作模式控制电路
典型的mosfet有3个工作区,即截止区、线性区和饱和区。当mosfet工作于线性区时,通过控制其栅源极之间电压vgs可实现对其流过电流id的控制,终控制其等效阻抗,从而对电源的输出性能测试。其子控制电路如图2所示,选用低温漂采样电阻采集电流信号,再将该电流信号差分放大接入运放u1a 反向输入端,u1a将电流信号和同向输入端的控制信号作比较运算,控制mosfet栅极电压,实现对mosfet等效阻抗的控制。
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